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三維光學(xué)輪廓儀
SENSOFAR共聚焦白光干涉儀
產(chǎn)品分類
白光干涉儀S neox的微電子領(lǐng)域應(yīng)用:Sensofar S neox為微電子制造提供非接觸式3D計量,應(yīng)用于晶圓平整度、TSV通孔、封裝凸點(diǎn)及MEMS器件的高精度快速測量,助力工藝控制與良率提升。
更新時間:2026-01-23
產(chǎn)品型號:
瀏覽量:130
白光干涉儀S neox的多功能平臺價值:Sensofar S neox集成共聚焦與干涉等多種光學(xué)技術(shù)于一體,以單一平臺應(yīng)對多樣化的表面測量需求,顯著節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間與成本,并提升設(shè)備投資回報率。
更新時間:2026-01-23
產(chǎn)品型號:
瀏覽量:122
白光干涉儀S neox的臺階高度測量:Sensofar S neox 3D光學(xué)輪廓儀的白光干涉模式,以非接觸方式實(shí)現(xiàn)臺階高度測量,具備亞納米級垂直分辨率,可快速、直觀獲取微納尺度三維形貌數(shù)據(jù),滿足精密計量需求。
更新時間:2026-01-23
產(chǎn)品型號:
瀏覽量:150
白光干涉儀S neox的粗糙度分析應(yīng)用:Sensofar S neox將表面粗糙度分析從一維的線分析推進(jìn)到三維的面分析,提供了更豐富、更具統(tǒng)計意義的表面信息,其非接觸的特點(diǎn)也使其適用于柔軟、易劃傷表面的檢測,為表面形貌的量化評價提供了現(xiàn)代化的工具。
更新時間:2026-01-23
產(chǎn)品型號:
瀏覽量:134
白光干涉儀S neox的校準(zhǔn)與準(zhǔn)確性:Sensofar S neox 3D光學(xué)輪廓儀通過系統(tǒng)化校準(zhǔn)流程,確保XY尺寸、Z軸高度及干涉參考平等精確可溯,為科研與精密制造提供可靠、可復(fù)現(xiàn)的納米級測量數(shù)據(jù)。
更新時間:2026-01-23
產(chǎn)品型號:
瀏覽量:125
白光干涉儀S neox:從二維到三維的視野,突破二維觀察局限,通過三維形貌測量精準(zhǔn)量化表面高度、粗糙度及輪廓尺寸,實(shí)現(xiàn)從“看”到“量”的跨越,為表面分析提供客觀數(shù)據(jù)支撐。
更新時間:2026-01-23
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